Erstsemesterexkursion zum Fraunhofer IISB

Wir besichtigen die Messtechnik der Technologieabteilung
Wann:
14.11.2012 13:30
Veranstaltung endet voraussichtlich:
14.11.2012 15:00

Veranstaltungsort:
Fraunhofer IISB


Veranstaltungsbeschreibung:
Das 1985 gegründete Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB betreibt angewandte Forschung und Entwicklung auf den Gebieten der Mikro- und Nanoelektronik, Leistungselektronik und Mechatronik. Mit Technologie-, Geräte- und Materialentwicklungen für die Nanoelektronik, seinen Aktivitäten auf dem Gebiet der Simulation sowie seinen Arbeiten zu leistungselektronischen Systemen für Energieeffizienz, Hybrid- und Elektroautomobile genießt das Institut internationale Aufmerksamkeit und Anerkennung.

Wir besichtigen die "Analytik und Messtechnik" der Technologieabteilung. Konkret geht es dabei um folgende Themen:
FIB (Focused Ion Beam): Hiermit ist es möglich, Schaltkreismodifikationen nach der Fertigung auszuführen, was beispielsweise die nachträgliche Änderung eines fehlerhaften Schaltungsentwurfes ermöglicht.
AFM (Atomic Force Microscope): Mit einem Rasterkraftmikroskop kann man Oberflächenstrukturen im Nanometerbereich untersuchen. Zusätzlich zu diesen Toppographischen Messdaten ist es gleichzeitig möglich, Strom-Spannungskennlinien, Magnetisierungen oder Ladungen zu messen.

Weiterhin wird es um die Lebensdauermessung von Photovoltaik-Zellen gehen.



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Anmeldung für diese Veranstaltung:

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Falls es noch Fragen gibt, Ansprechpartner für diese Veranstaltung ist Christopher Beck mit der E-Mail-Adresse:

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